XXVII-я Российская коференция по электронной микроскопии (РКЭМ - 2018) и 5-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов"

Страна: Россия

Город: Черноголовка

Тезисы до: 01.03.2018

Даты: 26.08.18 — 30.08.18

Е-мейл Оргкомитета: giza@iptm.ru%A0

Организаторы: Научный совет РАН по электронной микроскопии

 

Направления:

1.Новые методы просвечивающей/растровой электронной микроскопии, электронной дифракции и микроанализа. Hовые приборы, элементы электронной оптики, детекторы и обработка изображений.

2.Крио-ЭМ и применение электронной, конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине.

3.Электронная микроскопия, электронная дифракция и микроанализ в исследовании новых материалов.

4.Растровая электронная и ионная микроскопия. In-situ исследования в РЭМ.

5.Методы электронной микроскопии и микроанализа в исследовании предметов культурного наследия.

6.Сканирующая зондовая микроскопия.

7.Исследование сверхбыстрых процессов, фемтосекундная микроскопия, динамическая электронная кристаллография.

8.Электронная и ионная литография. Микроскопия в современных технологиях.

9.Электронная микроскопия в химии, геологии и материаловедении

10.Другие применения электронной микроскопии и комплементарных методов.

Веб-сайт конференции: http://purple.ipmt-hpm.ac.ru/sem/

Конференции по теме - с близкими дедлайнами: